超聲波無損探傷檢測中缺陷定位及計算方式

超聲無損檢測缺陷定位計算及分析

無損探傷檢測設(shè)備對超聲信號完成了降噪處理后，可以清晰地分辨出缺陷信息的波形，并觀察波形可以發(fā)現(xiàn)，超聲信號的缺陷信息部分為一些突變信號，并且這些突變之間不存在規(guī)律性。在進(jìn)行檢測時通過波形的觀察，可以發(fā)現(xiàn)在檢測時，產(chǎn)生的突變信號就說明該工件存在缺陷，突變越多則說明工件存在的缺陷越多。

采用超聲顯示中的 A 型顯式，利用降噪處理后的信號對缺陷進(jìn)行定位計算，我們可以根據(jù)橫軸中超聲波傳播時間，可以推算出該缺陷在工件中的深度，即距離超聲探測面的距離。當(dāng)缺陷距離探測面越遠(yuǎn)時，檢測相對誤差越小，可以看出 1 號缺陷的相對誤差最大，說明在實際檢測過程中存在固定誤差，當(dāng)缺陷與探測面距離較近時，固定誤差值占缺陷深度值較大，當(dāng)缺陷與探測面距離較遠(yuǎn)時，固定誤差值占缺陷深度值較小，因此相比較不同缺陷，當(dāng)缺陷越深，相對誤差越小。

對于存在的誤差有以下幾種原因：

（1）試驗誤差：在進(jìn)行試驗過程中，對于時間測量有一定的誤差，因此對工件的缺陷精度定位時存在誤差；（2）探頭的選取：探頭的頻率不同，會對信號產(chǎn)生影響，從而造成一定的誤差；

（3）降噪過程中，處理后的信號波形使計算時產(chǎn)生了一定程度的定位誤差。

最小發(fā)射信號

在無損探傷檢測中，當(dāng)系統(tǒng)確定時，缺陷越小，反射信號越小。最小發(fā)射信號的測試，可以為定量計算提供依據(jù)，以便定量分析時，根據(jù)超聲探頭的靈敏度，計算缺陷的最小檢測值。在檢測時，由于發(fā)射電壓不同導(dǎo)致信號幅值有所變化，在利用算法處理時，會使較弱的信號被視為噪聲信號被處理，從而無法獲取準(zhǔn)確的波形信息。因此針對本課題，需要分析在不同電壓下，檢測信號通過算法處理能否保留有效信息。